X射線熒光鍍層測厚儀
簡要描述：X射線熒光鍍層測厚儀又名x-ray光譜儀，x射線合金測厚儀，射線熒光鍍層分析儀FISCHERSCOPE®-X-RAY XULM是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，它結(jié)構(gòu)緊湊，小巧耐用。它們十分適用于無損測量細小零部件上的鍍層厚度和成分分析。
產(chǎn)品型號：XULM XULM-XYm- 廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
- 更新時間：2024-07-07
- 訪 問 量：15484
產(chǎn)品詳情
X射線熒光鍍層測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 和FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® XYm X射線光譜儀，用于細小零部件上鍍層厚度的無損測量和成分分析
X射線熒光鍍層測厚儀X-RAY XULM系列簡介
為了使每次測量都能在*的條件下進行，XULM配備了可電動調(diào)整的多種準直器及基本濾片。
比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯（17）到鈾（92）。
XULM型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。
本款儀器特別適合用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
微小零部件、接插件和線材上鍍層厚度的測量
印制線路板上手動測量
珠寶手表業(yè)中的鍍層厚度測量及成分分析
X-RAY XULM系列設(shè)計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設(shè)計為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式測量儀器系列。根據(jù)使用用途，有以下兩種不同版本型號，分別對應(yīng)不同樣品平臺：
XULM：固定平面平臺
XULM XYm：手動X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能，可以定位測量位置。
盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品。
外罩底部留下了空隙，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等。
通過強大且界面友好的WinFTM®軟件，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量儀器。
X-RAY XULM系列通用規(guī)范
| 用途 | 能量色散X射線熒光光譜儀 （EDXRF） 用于測量鍍層厚度和材料分析 |
| 可測量元素范圍 | 從氯（17）到鈾（92），如使用選配的WinFTM® BASIC，可zui多同時測量24種元素 |
| 設(shè)計理念 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
X-RAY XULM系列X射線源
| X射線靶材 | 帶鈹窗口的鎢靶微聚焦射線管 |
| 高壓 | 三種可調(diào)高壓：30 kV，40 kV，50 kV |
| 孔徑（準直器） | 4個可切換準直器： 標準型（523-440）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.05 x 0.05mm；0.2 x 0.03mm 可選 （523-366）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；Ø 0.3 mm；矩形0.3 x 0.05 mm 可選 （524-061）：圓形Ø 0.1mm；Ø 0.2mm；矩形0.3 x 0.05 mm；0.05 x 0.05mm 可按要求定制其它規(guī)格 |
| 基本濾片 | 3種可切換的基本濾片（標準型：鎳，無，鋁） |
| 測量點大小 | 取決于測量距離和使用的準直器的大小，視頻窗口中顯示的就是實際的測量點尺寸，使用矩形0.05 x 0.05mm準直器，zui小的測量點面積約為Ø 0.1 mm。 |
| 測量距離，如樣品為腔體時 | 使用保護的DCM（測量距離補償法）功能： 測量距離為0 ~ 20 mm時，為已校準范圍； 測量距離為20 ~ 27.5 mm，為非校準范圍。 |
X射線探測器
| X射線接收器 | 比例接收器 |
| 二次濾波器 | 可選：鈷濾波器或鎳濾波器 |
X-RAY XULM系列樣品定位
| 視頻顯微鏡 | 高分辨 CCD彩色攝像頭，可用來觀察測量位置十字線刻度和測量點大小經(jīng)過校準 測量區(qū)域的LED照明亮度可調(diào)節(jié) |
| 放大倍數(shù) | 38 x ~184x （光學(xué)變焦: 38x ~ 46x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x） |
| 樣品臺 | XULM | XULM XYm |
| 設(shè)計 | 固定樣品平臺 | 手動XY平臺 |
| X/Y方向zui大可移動范圍 | - | 50 x 50 mm |
| 樣品放置可用區(qū)域 | 250 x 280mm | |
| 樣品zui大重量 | 2kg | |
| 樣品zui高高度 | 240mm | |
| 電氣參數(shù) | |
| 電壓，頻率 | AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 功率 | zui大為 120 W （測量頭重量，不包括計算機） |
| 保護等級 | IP40 |
| 儀器規(guī)格 | |
| 外部尺寸 | 寬x深x高[mm]：395 x 580 x 510 |
| 重量 | 約45 kg |
| 內(nèi)部測量艙尺寸 | 寬x深x高[mm]：360 x 380 x 240 |
| 環(huán)境要求 | |
| 測量時溫度 | 10°C – 40°C / 50°F – 104°F |
| 存儲或運輸時溫度 | 0°C – 50°C / 32°F – 122°F |
| 空氣相對濕度 | ≤ 95 %，無結(jié)露 |
| 計算系統(tǒng) | |
| 計算機 | 帶擴展卡的Windows®個人計算機系統(tǒng) |
| 軟件 | 標準配置：Fischer WinFTM® LIGHT |
| 可選配置：Fischer WinFTM® BASIC, PDM®, SUPER | |
| 執(zhí)行標準 | |
| CE合格標準 | EN 61010 |
| X射線標準 | DIN ISO 3497和 ASTM B 568 |
| 型式許可 | 型式許可符合德國”Deutsche Röntgenverordnung-RöV“法令要求的，有完善防護措施的測量儀器。 |
如有特殊要求，可與Fischer磋商，定制特殊的XULM型號。
X射線熒光法是高效的材料分析工具。它廣泛應(yīng)用于鍍層厚度測量，同時也適于進行元素分析。
可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。
可以對幾乎任意尺寸和狀態(tài)的工件進行分析。粉末和糊狀材料可以和固體或液體一樣進行分析。
FISCHERSCOPE® X-Ray XAN® 和XDAL系列是能量分散的高性能X射線熒光光譜儀，它可以對未知材料進行簡單，快速而的分析。分析范圍從鋁（Al）到鈾（U），即使含量很小也可以測量。
X-RAY XULM系列這些*的儀器之所以具有如此強大的性能，是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導(dǎo)體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。
如果與應(yīng)用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無損和測量金含量的理想設(shè)備。
X-RAY XULM系列這些*的儀器之所以具有如此強大的性能，是因為它使用了帶珀耳帖冷卻的高光譜分辨率的半導(dǎo)體探測器和用于材料和多鍍層分析的WinFTM® V6軟件。
如果與應(yīng)用工具箱Gold Assay組合在一起，這些儀器系列也是FISCHERSCOPE® GOLDLINE ASSAY的一部分--珠寶和貴金屬領(lǐng)域快速、無損和測量金含量的理想設(shè)備。
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